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Holes effects on RF MEMS parallel membranes capacitors

Bendali, A. et Labedan, R. et Domingue, F. et Nerguizian, Vahé. 2006. « Holes effects on RF MEMS parallel membranes capacitors ». In Canadian Conference on Electrical and Computer Engineering (CCECE) (Ottawa, Canada, May 7-10, 2006), p. 2140-2143. Piscataway, NJ, USA : Institute of Electrical and Electronics Engineers.
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Type de document: Compte rendu de conférence
Professeur:
Professeur
Nerguizian, Vahé
Affiliation: Génie électrique
Date de dépôt: 30 oct. 2012 18:17
Dernière modification: 20 août 2015 14:34
URI: http://espace2.etsmtl.ca/id/eprint/2664

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