Thibeault, C., Hariri, Y. et Hobeika, C..
2012.
« Tester memory requirements and test application time reduction for delay faults with Digital Captureless test Sensors ».
Journal of Electronic Testing: Theory and Applications, vol. 28, nº 2.
pp. 229-242.
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URL Officielle: http://dx.doi.org/10.1007/s10836-011-5271-2
| Type de document: | Article publié dans une revue, révisé par les pairs |
|---|---|
| Chercheur(-euse): | Chercheur(-euse) Thibeault, Claude |
| Affiliation: | Génie électrique |
| Date de dépôt: | 19 févr. 2013 16:26 |
| Dernière modification: | 07 sept. 2024 17:39 |
| URI: | https://espace2.etsmtl.ca/id/eprint/3524 |
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