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La métrologie du logiciel et la recherche industrielle

Abran, Alain. 1997. « La métrologie du logiciel et la recherche industrielle ». Communication lors de la conférence : 2ième Forum International d'Informatique Appliquée (FIIA'96) (Tunis, Tunisie, 12-14 mars 1996).

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Type de document: Communication (Communication)
Informations complémentaires: Conférencier invité
Professeur:
Professeur
Abran, Alain
Affiliation: Autres
Date de dépôt: 14 déc. 2015 20:00
Dernière modification: 14 déc. 2015 20:00
URI: http://espace2.etsmtl.ca/id/eprint/11969

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