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Low-stress CMOS-compatible silicon carbide surface-micromachining technology-part II: beam resonators for MEMS above IC

Nabki, Frederic et Cicek, Paul-Vahe et Dusatko, Tomas A. et El-Gamal, Mourad N.. 2011. « Low-stress CMOS-compatible silicon carbide surface-micromachining technology-part II: beam resonators for MEMS above IC ». Journal of Microelectromechanical Systems, vol. 20, nº 3. p. 730-744.
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Type de document: Article publié dans une revue, révisé par les pairs
Professeur:
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Nabki, Frédéric
Affiliation: Autres
Date de dépôt: 13 juill. 2016 17:38
Dernière modification: 13 juill. 2016 17:38
URI: http://espace2.etsmtl.ca/id/eprint/13199

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