La vitrine de diffusion des publications et contributions des chercheurs de l'ÉTS
RECHERCHER

A comparative study of experimental and finite element analysis on submillimeter flaws by laser and ultrasonic excited thermography

Hai, Zhang et Fernandes, Henrique et Lingyao, Yu et Hassler, Ulf et Genest, Marc et Robitaille, François et Joncas, Simon et Yunlong, Sheng et Maldague, Xavier. 2016. « A comparative study of experimental and finite element analysis on submillimeter flaws by laser and ultrasonic excited thermography ». In Thermosense: Thermal Infrared Applications XXXVIII (Baltimore, MD, USA, Apr. 18-21, 2016) Coll. « Proceedings of the SPIE », vol. 9861. USA : SPIE.

Le plein texte de ce document n'est pas hébergé sur ce serveur.
Type de document: Compte rendu de conférence
Professeur:
Professeur
Joncas, Simon
Affiliation: Génie de la production automatisée
Date de dépôt: 05 oct. 2016 18:13
Dernière modification: 05 oct. 2016 18:13
URI: http://espace2.etsmtl.ca/id/eprint/13812

Actions (Authentification requise)

Dernière vérification avant le dépôt Dernière vérification avant le dépôt