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DEBS grand challenge: Solving manufacturing equipment monitoring through efficient complex event processing

Rabl, Tilmann et Zhang, Kaiwen et Sadoghi, Mohammad et Pandey, Navneet Kumar et Nigam, Aakash et Wang, Chen et Jacobsen, Hans-Arno. 2012. « DEBS grand challenge: Solving manufacturing equipment monitoring through efficient complex event processing ». In Proceedings of the 6th ACM International Conference on Distributed Event-Based Systems (DEBS'12) (Berlin, Germany, July 16-20, 2012), p. 335-340. Association for Computing Machinery.

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Type de document: Compte rendu de conférence
Professeur:
Professeur
Zhang, Kaiwen
Affiliation: Autres
Date de dépôt: 16 janv. 2018 16:54
Dernière modification: 16 janv. 2018 16:54
URI: http://espace2.etsmtl.ca/id/eprint/16152

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