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On the test quality evaluation of current testing techniques

Thibeault, Claude. 2005. « On the test quality evaluation of current testing techniques ». In IEEE International Workshop on Current and Defect Based Testing (DBT) (Palm Springs, CA, USA, May 1, 2005), p. 16-22. Piscataway, NJ, USA : Institute of Electrical and Electronics Engineers Computer Society.
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Type de document: Compte rendu de conférence
Professeur:
Professeur
Thibeault, Claude
Affiliation: Génie électrique
Date de dépôt: 30 oct. 2012 18:19
Dernière modification: 30 oct. 2012 18:19
URI: http://espace2.etsmtl.ca/id/eprint/2941

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