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CoMet : a tool using CUMM to measure unused components members

Msheik, Hamdam et Abran, Alain et Mcheick, Hamad et Touloumis, Dimitrios et Khelifi, Adel. 2006. « CoMet : a tool using CUMM to measure unused components members ». In IEEE International Conference on Computer Systems and Applications (Sharjah, United Arab Emirates, March 8, 2006), p. 697-703. Piscataway, NJ, USA : Institute of Electrical and Electronics Engineers Computer Society.

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Type de document: Compte rendu de conférence
Professeur:
Professeur
Abran, Alain
Affiliation: Génie logiciel et des technologies de l'information
Date de dépôt: 30 oct. 2012 18:19
Dernière modification: 30 oct. 2012 18:19
URI: http://espace2.etsmtl.ca/id/eprint/3013

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