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Testing for parasitic memory effect in SRAMs

Irobi, Sandra et Al-Ars, Zaid et Hamdioui, Said et Thibeault, Claude. 2011. « Testing for parasitic memory effect in SRAMs ». In 20th Asian Test Symposium (ATS) (New Delhi, India, Nov. 20-23, 2011), p. 407-412. Los Alamitos, CA, USA : Institute of Electrical and Electronics Engineers Computer Society.

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Type de document: Compte rendu de conférence
Professeur:
Professeur
Thibeault, Claude
Affiliation: Génie électrique
Date de dépôt: 18 avr. 2013 19:02
Dernière modification: 18 avr. 2013 19:02
URI: http://espace2.etsmtl.ca/id/eprint/4210

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