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On the use of wavelet analysis for IC testing

Dia, Aminata et Thibeault, Claude et Gargour, Christian et Houle, Jean Louis. 1999. « On the use of wavelet analysis for IC testing ». In Troisième conférence internationale sur l'automatisation industrielle, École de technologie supérieure, Montréal, 7-9 juin 1999 : actes de la conférence = Third International Conference on Industrial Automation, École de technologie supérieure, Montréal, (Montreal, Canada, June 7-9, 1999), 21/9-21/12. Montreal, Canada : International Associaion of Industrial Automation.

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Type de document: Compte rendu de conférence
Éditeurs:
Éditeurs
Bogdadi, Guy
Professeur:
Professeur
Thibeault, Claude
Gargour, Christian
Affiliation: Génie électrique
Date de dépôt: 18 avr. 2013 19:03
Dernière modification: 13 oct. 2015 13:55
URI: http://espace2.etsmtl.ca/id/eprint/4527

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