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Multi-abstraction level signature generation and comparison based on radiation single event upset

Hobeika, C. et Pichette, S. et Leonard, M. A. et Thibeault, Claude et Boland, Jean-François et Audet, Y.. 2014. « Multi-abstraction level signature generation and comparison based on radiation single event upset ». In 2014 IEEE 20th International On-Line Testing Symposium (IOLTS) (Platja d'Aro, Girona, Spain, July 7-9, 2014), p. 212-215. Piscataway, N. J., USA : IEEE.
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Type de document: Compte rendu de conférence
Professeur:
Professeur
Thibeault, Claude
Boland, Jean-François
Affiliation: Génie électrique
Date de dépôt: 12 sept. 2014 18:52
Dernière modification: 12 sept. 2014 18:52
URI: http://espace2.etsmtl.ca/id/eprint/8465

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