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La métrologie du logiciel et la recherche industrielle

Abran, Alain. 1997. « La métrologie du logiciel et la recherche industrielle ». Communication lors de la conférence : 2ième Forum International d'Informatique Appliquée (FIIA'96) (Tunis, Tunisie, 12-14 mars 1996).

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Item Type: Communication (Communication)
Additional Information: Conférencier invité
Professor:
Professor
Abran, Alain
Affiliation: Autres
Date Deposited: 14 Dec 2015 20:00
Last Modified: 14 Dec 2015 20:00
URI: https://espace2.etsmtl.ca/id/eprint/11969

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