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Characterization of thin-film optical properties by THz near-field imaging

Amirkhan, F., Nechache, R., Sakata, R., Takiguchi, K., Arikawa, T., Ozaki, T., Tanaka, K. et Blanchard, F.. 2018. « Characterization of thin-film optical properties by THz near-field imaging ». In 2018 Photonics North Conference (PN) (Montreal, QC, Canada, June 5-7, 2018) IEEE.

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Type de document: Compte rendu de conférence
Professeur:
Professeur
Blanchard, François
Affiliation: Génie électrique
Date de dépôt: 04 sept. 2018 14:30
Dernière modification: 22 janv. 2020 19:31
URI: https://espace2.etsmtl.ca/id/eprint/17300

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