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3D Depth migration of the Elsfleth survey: From post-SDM to pre-SDM with multi-valued migration operators

Kiehn, M., Samson, C., Salomons, B., Bruhl, M., Fonk, R. L. J. P., Haneveld, C. et Lahmeyer, B.. 1996. « 3D Depth migration of the Elsfleth survey: From post-SDM to pre-SDM with multi-valued migration operators ». Communication lors de la conférence : SIPMAP Workshop, Shell International Exploration and Production B.V. (The Hague, Netherlands, Oct. 07-11, 1996).

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Type de document: Communication (Communication)
Professeur:
Professeur
Samson, Claire
Affiliation: Autres
Date de dépôt: 13 mai 2019 19:58
Dernière modification: 13 mai 2019 19:58
URI: https://espace2.etsmtl.ca/id/eprint/18805

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