Multi scale multi descriptor local binary features and exponential discriminant analysis for robust face authentication

Ouamane, Abdelmalik, Messaoud, Bengherabi, Guessoum, Abderrezak, Hadid, Abdenour et Cheriet, Mohamed. 2014. « Multi scale multi descriptor local binary features and exponential discriminant analysis for robust face authentication ». In 2014 IEEE International Conference on Image Processing (ICIP) (Paris, France, Oct. 27-30, 2014) pp. 313-317. Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc..
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URL Officielle: https://doi.org/10.1109/ICIP.2014.7025062

Type de document:	Compte rendu de conférence
ISBN:	9781479957514
Professeur:	Professeur Cheriet, Mohamed
Affiliation:	Génie de la production automatisée
Date de dépôt:	11 juill. 2019 14:44
Dernière modification:	11 juill. 2019 14:44
URI:	https://espace2.etsmtl.ca/id/eprint/18973

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