Amirkhan, F., Sakata, R., Takiguchi, K., Arikawa, T., Ozaki, T., Tanaka, K. et Blanchard, F..
2019.
« Characterization of thin-film optical properties by THz near-field imaging method ».
Journal of the Optical Society of America B: Optical Physics, vol. 36, nº 9.
pp. 2593-2601.
Compte des citations dans Scopus : 14.
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URL Officielle: http://dx.doi.org/10.1364/JOSAB.36.002593
| Type de document: | Article publié dans une revue, révisé par les pairs |
|---|---|
| Professeur: | Professeur Blanchard, François |
| Affiliation: | Génie électrique |
| Date de dépôt: | 25 oct. 2019 21:03 |
| Dernière modification: | 22 janv. 2020 19:31 |
| URI: | https://espace2.etsmtl.ca/id/eprint/19659 |
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