An automated non-linear transistor characterization system with a high-level language user-interface for easy control, visualization and data management

Ghannouchi, F. M., Kouki, A. B. et Beauregard, F.. 1993. « An automated non-linear transistor characterization system with a high-level language user-interface for easy control, visualization and data management ». In 41st ARFTG Conference Digest - Spring 1993 (Atlanta, GA, USA, June 18, 1993) pp. 18-23. Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc..
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URL Officielle: https://doi.org/10.1109/ARFTG.1993.327014

Type de document:	Compte rendu de conférence
Professeur:	Professeur Kouki, Ammar B.
Affiliation:	Autres
Date de dépôt:	19 sept. 2022 14:27
Dernière modification:	19 sept. 2022 14:27
URI:	https://espace2.etsmtl.ca/id/eprint/25331

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