Knowledge-intensive diagnostics using case-based reasoning and synthetic case generation

Pichette, Simon et Thibeault, Claude. 2023. « Knowledge-intensive diagnostics using case-based reasoning and synthetic case generation ». IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems, vol. 42, nº 7. pp. 2404-2417.

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URL Officielle: https://doi.org/10.1109/TCAD.2022.3222287

Type de document:	Article publié dans une revue, révisé par les pairs
Professeur:	Professeur Thibeault, Claude
Affiliation:	Génie électrique
Date de dépôt:	21 déc. 2022 21:54
Dernière modification:	26 juill. 2023 17:38
URI:	https://espace2.etsmtl.ca/id/eprint/26021

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