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Customization of an atomic force microscope for multidimensional measurements under environmental conditions

Guner, Bugrahan, Laflamme, Simon et Dagdeviren, Omur E.. 2023. « Customization of an atomic force microscope for multidimensional measurements under environmental conditions ». Review of Scientific Instruments, vol. 94, nº 6.
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Type de document: Article publié dans une revue, révisé par les pairs
Professeur:
Professeur
Dagdeviren, Omur
Affiliation: Génie mécanique
Date de dépôt: 26 juill. 2023 17:54
Dernière modification: 26 juill. 2023 17:54
URI: https://espace2.etsmtl.ca/id/eprint/27091

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