Pourrahimi, Shamim, Vanderesse, Nicolas, Bocher, Philippe, Habibnejad-Korayem, Mahdi et Hof, Lucas A..
2026.
« Quantitative surface roughness analysis of selective masking electrochemical polishing in additive manufactured lattices using a novel X-ray computed tomography based method ».
Advances in Manufacturing.
(Sous presse)
Rechercher dans Google Scholar
URL Officielle: https://doi.org/10.1007/s40436-026-00612-0
| Type de document: | Article publié dans une revue, révisé par les pairs |
|---|---|
| Chercheur(-euse): | Chercheur(-euse) Bocher, Philippe Hof, Lucas |
| Affiliation: | Génie mécanique, Génie mécanique |
| Date de dépôt: | 29 juin 2026 17:24 |
| Dernière modification: | 29 juin 2026 17:24 |
| URI: | https://espace2.etsmtl.ca/id/eprint/33852 |
Actions (Authentification requise)
 |
Dernière vérification avant le dépôt |