Purge-Gate: Backpropagation-free test-time adaptation for point clouds classification via token purging

Yazdanpanah, Moslem, Bahri, Ali, Noori, Mehrdad, Dastani, Sahar, Hakim, Gustavo Adolfo Vargas, Osowiechi, David, Ben Ayed, Ismail et Desrosiers, Christian. 2025. « Purge-Gate: Backpropagation-free test-time adaptation for point clouds classification via token purging ». In IEEE/CVF International Conference on Computer Vision (ICCV) (Honolulu, HI, USA, Oct. 19-25, 2025) 27640–27649. Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc..

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URL Officielle: https://doi.org/10.1109/ICCV51701.2025.02566

Type de document:	Compte rendu de conférence
Chercheur(-euse):	Chercheur(-euse) Ben Ayed, Ismail Desrosiers, Christian
Affiliation:	Génie des systèmes, Génie logiciel et des technologies de l'information
Date de dépôt:	03 août 2026 14:24
Dernière modification:	03 août 2026 14:24
URI:	https://espace2.etsmtl.ca/id/eprint/34099

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