Impact of clock gating on IC delay testing: Experimental results

Thibeault, Claude et Dabbebi, Sara. 2026. « Impact of clock gating on IC delay testing: Experimental results ». In IEEE Canadian Conference on Electrical and Computer Engineering (CCECE) (Montreal, QC, Canada, May 18-20, 2026) 762–768. Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc..

Le plein texte de ce document n'est pas hébergé sur ce serveur.

Rechercher dans Google Scholar

URL Officielle: http://dx.doi.org/10.1109/CCECE68150.2026.11610291

Type de document:	Compte rendu de conférence
ISBN:	08407789
Chercheur(-euse):	Chercheur(-euse) Thibeault, Claude
Affiliation:	Génie électrique
Date de dépôt:	09 sept. 2026 15:11
Dernière modification:	09 sept. 2026 15:11
URI:	https://espace2.etsmtl.ca/id/eprint/34314

Actions (Authentification requise)

Dernière vérification avant le dépôt