Dia, Aminata, Thibeault, Claude, Gargour, Christian et Houle, Jean Louis.
1999.
« On the use of wavelet analysis for IC testing ».
In Troisième conférence internationale sur l'automatisation industrielle, École de technologie supérieure, Montréal, 7-9 juin 1999 : actes de la conférence = Third International Conference on Industrial Automation, École de technologie supérieure, Montréal, (Montreal, Canada, June 7-9, 1999)
21/9-21/12.
Montreal, Canada : International Associaion of Industrial Automation.
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| Item Type: | Conference proceeding |
|---|---|
| ISBN: | 2 9802946 2 4 |
| Editors: | Editors ORCID Bogdadi, Guy UNSPECIFIED |
| Professor: | Professor Thibeault, Claude Gargour, Christian |
| Affiliation: | Génie électrique |
| Date Deposited: | 18 Apr 2013 19:03 |
| Last Modified: | 13 Oct 2015 13:55 |
| URI: | https://espace2.etsmtl.ca/id/eprint/4527 |
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