Dia, Aminata, Thibeault, Claude, Gargour, Christian et Houle, Jean Louis.
1999.
« On the use of wavelet analysis for IC testing ».
In Troisième conférence internationale sur l'automatisation industrielle, École de technologie supérieure, Montréal, 7-9 juin 1999 : actes de la conférence = Third International Conference on Industrial Automation, École de technologie supérieure, Montréal, (Montreal, Canada, June 7-9, 1999)
21/9-21/12.
Montreal, Canada : International Associaion of Industrial Automation.
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| Item Type: |
Conference proceeding
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| ISBN: |
2 9802946 2 4 |
| Editors: |
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| Professor: |
| Thibeault, Claude | | Gargour, Christian |
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| Affiliation: |
Génie électrique |
| Date Deposited: |
18 Apr 2013 19:03 |
| Last Modified: |
13 Oct 2015 13:55 |
| URI: |
https://espace2.etsmtl.ca/id/eprint/4527 |
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