A cost model for VLSI/MCM systems

Kafrouni, M., Thibeault, Claude et Savaria, Yvon. 1997. « A cost model for VLSI/MCM systems ». In IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems (Paris, France, Oct. 20-22, 1997) pp. 148-156. Los Alamitos, CA, USA : Institute of Electrical and Electronics Engineers Computer Society.

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URL Officielle: http://dx.doi.org/10.1109/dftvs.1997.628320

Type de document:	Compte rendu de conférence
ISBN:	0-8186-8168-3
Professeur:	Professeur Thibeault, Claude
Affiliation:	Génie électrique
Date de dépôt:	18 avr. 2013 19:03
Dernière modification:	18 avr. 2013 19:03
URI:	https://espace2.etsmtl.ca/id/eprint/4590

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