Improving Delta-IDDQ-based test methods

Thibeault, Claude. 2000. « Improving Delta-IDDQ-based test methods ». In International Test Conference (Atlantic City, NJ, USA, Oct. 3-5, 2000) pp. 207-216. Piscataway, NJ, USA : Institute of Electrical and Electronics Engineers.
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URL Officielle: http://dx.doi.org/10.1109/TEST.2000.894208

Type de document:	Compte rendu de conférence
ISBN:	0-7803-6546-1
Professeur:	Professeur Thibeault, Claude
Affiliation:	Génie électrique
Date de dépôt:	18 avr. 2013 19:04
Dernière modification:	18 avr. 2013 19:04
URI:	https://espace2.etsmtl.ca/id/eprint/4720

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