Using Fourier analyses to enhance IC testability

Thibeault, Claude. 1994. « Using Fourier analyses to enhance IC testability ». In IEEE International Workshop on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems (Los Alamitos, CA, USA, Oct. 17-19, 1994) pp. 280-288. IEEE Computer Society Press.
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URL Officielle: http://dx.doi.org/10.1109/DFTVS.1994.630041

Type de document:	Compte rendu de conférence
Professeur:	Professeur Thibeault, Claude
Affiliation:	Génie électrique
Date de dépôt:	27 mars 2014 16:00
Dernière modification:	27 mars 2014 16:00
URI:	https://espace2.etsmtl.ca/id/eprint/7337

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