Mkaouar, M. and Lepage, R..
1995.
« Extraction des caractéristiques d'une image par analyse à multiple résolutions spatiales ».
In Canadian Conference on Electrical and Computer Engineering, 1995 (Montréal, QC, Canada, 5-8 sept. 1995)
pp. 1176-1179.
IEEE.
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Official URL: http://dx.doi.org/10.1109/CCECE.1995.526672
Item Type: | Conference proceeding |
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Professor: | Professor Lepage, Richard |
Affiliation: | Génie électrique |
Date Deposited: | 23 Dec 2014 14:55 |
Last Modified: | 23 Dec 2014 14:55 |
URI: | https://espace2.etsmtl.ca/id/eprint/9182 |
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