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Equivalence proofs of some yield modeling methods for defect-tolerant integrated circuits

Thibeault, Claude et Savaria, Yvon et Houle, Jean louis. 1995. « Equivalence proofs of some yield modeling methods for defect-tolerant integrated circuits ». IEEE Transactions on Computers, vol. 44, nº 5. p. 724-728.
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Type de document: Article publié dans une revue, révisé par les pairs
Professeur:
Professeur
Thibeault, Claude
Affiliation: Génie électrique
Date de dépôt: 29 oct. 2012 20:47
Dernière modification: 29 oct. 2012 20:47
URI: http://espace2.etsmtl.ca/id/eprint/2232

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