Equivalence proofs of some yield modeling methods for defect-tolerant integrated circuits

Thibeault, Claude, Savaria, Yvon et Houle, Jean louis. 1995. « Equivalence proofs of some yield modeling methods for defect-tolerant integrated circuits ». IEEE Transactions on Computers, vol. 44, nº 5. pp. 724-728.
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URL Officielle: http://dx.doi.org/10.1109/12.381962

Type de document:	Article publié dans une revue, révisé par les pairs
Professeur:	Professeur Thibeault, Claude
Affiliation:	Génie électrique
Date de dépôt:	29 oct. 2012 20:47
Dernière modification:	29 oct. 2012 20:47
URI:	https://espace2.etsmtl.ca/id/eprint/2232

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