An inexpensive method of testing localized parametric defects in static RAM

Savaria, Y. et Thibeault, Claude. 1993. « An inexpensive method of testing localized parametric defects in static RAM ». In Records of the 1993 IEEE International workshop on memory testing (San Jose, CA, USA, Aug. 9-10, 1993) pp. 90-95. Institute of Electrical and Electronics Engineers.
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URL Officielle: http://dx.doi.org/10.1109/MT.1993.263143

Type de document:	Compte rendu de conférence
Chercheur(-euse):	Chercheur(-euse) Thibeault, Claude
Affiliation:	Génie électrique
Date de dépôt:	23 déc. 2014 14:55
Dernière modification:	23 déc. 2014 14:55
URI:	https://espace2.etsmtl.ca/id/eprint/9210

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