Savaria, Y. et Thibeault, Claude (1993) An inexpensive method of testing localized parametric defects in static RAM. In: NON SPÉCIFIÉ, Aug. 9-10, 1993, San Jose, CA, USA.
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URL Officielle: http://dx.doi.org/10.1109/MT.1993.263143
| Type de document: | Document issu d'une conférence ou d'un atelier (NON SPÉCIFIÉ) |
|---|---|
| Déposé par: | Gaston Fournier |
| Date de dépôt: | 23 déc. 2014 14:55 |
| Dernière modification: | 23 déc. 2014 14:55 |
| URI: | http:///id/eprint/9210 |
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