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Comprehensive experimental investigation of gate current limitation effects on power GaAs FETs RF performances

Constantin, Nicolas et Ghannouchi, Fadhel M.. 1995. « Comprehensive experimental investigation of gate current limitation effects on power GaAs FETs RF performances ». In IEEE MTT-S International Microwave Symposium Digest, 1995 (Orlando, FL, USA, May 16-20, 1995), p. 717-720.
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Type de document: Compte rendu de conférence
Professeur:
Professeur
Constantin, Nicolas
Affiliation: Génie électrique
Date de dépôt: 06 nov. 2015 16:19
Dernière modification: 06 nov. 2015 16:19
URI: http://espace2.etsmtl.ca/id/eprint/11792

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