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Comparative study on submillimeter flaws in stitched T-joint carbon fiber reinforced polymer by infrared thermography, microcomputed tomography, ultrasonic c-scan and microscopic inspection

Zhang, Hai et Hassler, Ulf et Genest, Marc et Fernandes, Henrique et Robitaille, François et Ibarra-Castanedo, Clemente et Joncas, Simon et Maldague, Xavier. 2015. « Comparative study on submillimeter flaws in stitched T-joint carbon fiber reinforced polymer by infrared thermography, microcomputed tomography, ultrasonic c-scan and microscopic inspection ». Optical Engineering, vol. 54, nº 10.
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Type de document: Article publié dans une revue, révisé par les pairs
Professeur:
Professeur
Joncas, Simon
Affiliation: Génie de la production automatisée
Date de dépôt: 12 nov. 2015 21:55
Dernière modification: 13 juin 2016 13:11
URI: http://espace2.etsmtl.ca/id/eprint/11834

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