Comparative study on submillimeter flaws in stitched T-joint carbon fiber reinforced polymer by infrared thermography, microcomputed tomography, ultrasonic c-scan and microscopic inspection

Zhang, Hai, Hassler, Ulf, Genest, Marc, Fernandes, Henrique, Robitaille, François, Ibarra-Castanedo, Clemente, Joncas, Simon et Maldague, Xavier. 2015. « Comparative study on submillimeter flaws in stitched T-joint carbon fiber reinforced polymer by infrared thermography, microcomputed tomography, ultrasonic c-scan and microscopic inspection ». Optical Engineering, vol. 54, nº 10.
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Type de document:	Article publié dans une revue, révisé par les pairs
Professeur:	Professeur Joncas, Simon
Affiliation:	Génie de la production automatisée
Date de dépôt:	12 nov. 2015 21:55
Dernière modification:	13 juin 2016 13:11
URI:	https://espace2.etsmtl.ca/id/eprint/11834

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