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Towards analysis of the radiation sensitivity of digital designs at high level of abstraction

Léonard, Marc-André et Boland, Jean-François et Jégo, Christophe et Thibeault, Claude. 2015. « Towards analysis of the radiation sensitivity of digital designs at high level of abstraction ». In SAE 2015 AeroTech Congress & Exhibition (Seattle, WA, USA, Sept. 22-24, 2015) Coll. « SAE Technical Paper », vol. 2015-01-2549. SAE International.

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Type de document: Compte rendu de conférence
Professeur:
Professeur
Boland, Jean-François
Thibeault, Claude
Affiliation: Génie électrique
Date de dépôt: 03 févr. 2016 20:38
Dernière modification: 03 févr. 2016 20:38
URI: http://espace2.etsmtl.ca/id/eprint/12246

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