Towards analysis of the radiation sensitivity of digital designs at high level of abstraction

Léonard, Marc-André, Boland, Jean-François, Jégo, Christophe et Thibeault, Claude. 2015. « Towards analysis of the radiation sensitivity of digital designs at high level of abstraction ». In SAE 2015 AeroTech Congress & Exhibition (Seattle, WA, USA, Sept. 22-24, 2015) Coll. « SAE Technical Papers », vol. 2015-01-2549. SAE International.

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URL Officielle: http://dx.doi.org/10.4271/2015-01-2549

Type de document:	Compte rendu de conférence
Professeur:	Professeur Boland, Jean-François Thibeault, Claude
Affiliation:	Génie électrique, Génie électrique
Date de dépôt:	03 févr. 2016 20:38
Dernière modification:	05 avr. 2018 15:08
URI:	https://espace2.etsmtl.ca/id/eprint/12246

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