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WeSPer: a flexible small delay defect quality metric

Hasib, Omar Al-Terkawi et Savaria, Yvon et Thibeault, Claude. 2016. « WeSPer: a flexible small delay defect quality metric ». In 2016 IEEE 34th VLSI Test Symposium (VTS) (Las Vegas , NV, USA, Apr. 25-27, 2016) IEEE Computer Society.

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Type de document: Compte rendu de conférence
Professeur:
Professeur
Thibeault, Claude
Affiliation: Génie électrique
Date de dépôt: 21 juin 2016 15:02
Dernière modification: 21 juin 2016 15:02
URI: http://espace2.etsmtl.ca/id/eprint/12838

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