WeSPer: a flexible small delay defect quality metric

Hasib, Omar Al-Terkawi, Savaria, Yvon et Thibeault, Claude. 2016. « WeSPer: a flexible small delay defect quality metric ». In 2016 IEEE 34th VLSI Test Symposium (VTS) (Las Vegas , NV, USA, Apr. 25-27, 2016) IEEE Computer Society.
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URL Officielle: http://dx.doi.org/10.1109/VTS.2016.7477266

Type de document:	Compte rendu de conférence
Professeur:	Professeur Thibeault, Claude
Affiliation:	Génie électrique
Date de dépôt:	21 juin 2016 15:02
Dernière modification:	21 juin 2016 15:02
URI:	https://espace2.etsmtl.ca/id/eprint/12838

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