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Digital measurement technique for capacitance variation detection on integrated circuit I/Os

Blaquière, Yves et Savaria, Yvon et Fouladi, Jaouad El. 2007. « Digital measurement technique for capacitance variation detection on integrated circuit I/Os ». In 14th IEEE International Conference on Electronics, Circuits and Systems (ICECS) (Marrakech, Morocco, Dec. 11-14, 2007), p. 42-45. IEEE.

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Type de document: Compte rendu de conférence
Professeur:
Professeur
Blaquière, Yves
Affiliation: Autres
Date de dépôt: 21 févr. 2017 14:57
Dernière modification: 21 févr. 2017 14:57
URI: http://espace2.etsmtl.ca/id/eprint/14634

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