Digital measurement technique for capacitance variation detection on integrated circuit I/Os

Blaquière, Yves, Savaria, Yvon et Fouladi, Jaouad El. 2007. « Digital measurement technique for capacitance variation detection on integrated circuit I/Os ». In 14th IEEE International Conference on Electronics, Circuits and Systems (ICECS) (Marrakech, Morocco, Dec. 11-14, 2007) pp. 42-45. IEEE.
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URL Officielle: http://dx.doi.org/10.1109/ICECS.2007.4510926

Type de document:	Compte rendu de conférence
Professeur:	Professeur Blaquière, Yves
Affiliation:	Autres
Date de dépôt:	21 févr. 2017 14:57
Dernière modification:	21 févr. 2017 14:57
URI:	https://espace2.etsmtl.ca/id/eprint/14634

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