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Steady state thermal analysis of a reconfigurable wafer-scale circuit board

Bougataya, Mohammed et Lakhsasi, Ahmed et Norman, Richard et Prytula, Richard et Blaquière, Yves et Savaria, Yvon. 2008. « Steady state thermal analysis of a reconfigurable wafer-scale circuit board ». In IEEE Canadian Conference on Electrical and Computer Engineering (CCECE) (Niagara Falls, ON, Canada, May 04-07, 2008), p. 411-415. IEEE.

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Type de document: Compte rendu de conférence
Professeur:
Professeur
Blaquière, Yves
Affiliation: Autres
Date de dépôt: 21 févr. 2017 14:57
Dernière modification: 21 févr. 2017 14:57
URI: http://espace2.etsmtl.ca/id/eprint/14636

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