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Design and validation of a novel reconfigurable and defect tolerant JTAG scan chain

Blaquière, Yves et Basile-Bellavance, Yan et Berrima, Safa et Savaria, Yvon. 2014. « Design and validation of a novel reconfigurable and defect tolerant JTAG scan chain ». In IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS) (Melbourne, VIC, Australia, June 01-05, 2014), p. 2559-2562. IEEE.

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Type de document: Compte rendu de conférence
Professeur:
Professeur
Blaquière, Yves
Affiliation: Autres
Date de dépôt: 21 févr. 2017 14:53
Dernière modification: 21 févr. 2017 14:53
URI: http://espace2.etsmtl.ca/id/eprint/14659

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