Design and validation of a novel reconfigurable and defect tolerant JTAG scan chain

Blaquière, Yves, Basile-Bellavance, Yan, Berrima, Safa et Savaria, Yvon. 2014. « Design and validation of a novel reconfigurable and defect tolerant JTAG scan chain ». In IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS) (Melbourne, VIC, Australia, June 01-05, 2014) pp. 2559-2562. IEEE.
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URL Officielle: http://dx.doi.org/10.1109/ISCAS.2014.6865695

Type de document:	Compte rendu de conférence
ISBN:	02714310
Professeur:	Professeur Blaquière, Yves
Affiliation:	Autres
Date de dépôt:	21 févr. 2017 14:53
Dernière modification:	21 févr. 2017 14:53
URI:	https://espace2.etsmtl.ca/id/eprint/14659

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