Hobeika, Christelle et Thibeault, Claude et Boland, Jean-François.
2009.
« Automatic verification methodology based on structural test patterns ».
Affiche présentée lors de la conférence :
27th VLSI Test Symposium (IEEE VTS) (Santa Cruz, Calif., USA, May 3-7, 2009).
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| Type de document: |
Affiche
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| Informations complémentaires: |
Honneur : Best Student Poster Award |
| Professeur: |
| Professeur |
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| Thibeault, Claude | | Boland, Jean-François |
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| Affiliation: |
Génie électrique |
| Date de dépôt: |
18 avr. 2013 19:01 |
| Dernière modification: |
05 avr. 2018 15:08 |
| URI: |
http://espace2.etsmtl.ca/id/eprint/3975 |
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