La vitrine de diffusion des publications et contributions des chercheurs de l'ÉTS
RECHERCHER

Automatic verification methodology based on structural test patterns

Hobeika, Christelle et Thibeault, Claude et Boland, Jean-François. 2009. « Automatic verification methodology based on structural test patterns ». Affiche présentée lors de la conférence : 27th VLSI Test Symposium (IEEE VTS) (Santa Cruz, Calif., USA, May 3-7, 2009).

Le plein texte de ce document n'est pas hébergé sur ce serveur.
Type de document: Affiche
Informations complémentaires: Honneur : Best Student Poster Award
Professeur:
Professeur
Thibeault, Claude
Boland, Jean-François
Affiliation: Génie électrique
Date de dépôt: 18 avr. 2013 19:01
Dernière modification: 18 avr. 2013 19:01
URI: http://espace2.etsmtl.ca/id/eprint/3975

Actions (Authentification requise)

Dernière vérification avant le dépôt Dernière vérification avant le dépôt