Hobeika, Christelle, Thibeault, Claude et Boland, Jean-François. 2009. « Automatic verification methodology based on structural test patterns ». Affiche présentée lors de la conférence : 27th VLSI Test Symposium (IEEE VTS) (Santa Cruz, Calif., USA, May 3-7, 2009).
Le plein texte de ce document n'est pas hébergé sur ce serveur.| Type de document: | Affiche |
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| Informations complémentaires: | Honneur : Best Student Poster Award |
| Professeur: | Professeur Thibeault, Claude Boland, Jean-François |
| Affiliation: | Génie électrique |
| Date de dépôt: | 18 avr. 2013 19:01 |
| Dernière modification: | 05 avr. 2018 15:08 |
| URI: | https://espace2.etsmtl.ca/id/eprint/3975 |
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