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Tolerance control with high resolution 3D measurements

Prieto, Flavio et Redarce, Tanneguy et Boulanger, Pierre et Lepage, Richard. 2001. « Tolerance control with high resolution 3D measurements ». In 3ird International Conference on 3-D Digital Imaging and Modeling (Quebec, QC, Canada, May 28-June 1, 2001), p. 339-346. Los Alamitos, CA, USA : Institute of Electrical and Electronics Engineers Computer Society.
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Type de document: Compte rendu de conférence
Professeur:
Professeur
Lepage, Richard
Affiliation: Génie de la production automatisée
Date de dépôt: 24 juill. 2013 20:42
Dernière modification: 24 juill. 2013 20:42
URI: http://espace2.etsmtl.ca/id/eprint/4957

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