Tolerance control with high resolution 3D measurements

Prieto, Flavio, Redarce, Tanneguy, Boulanger, Pierre et Lepage, Richard. 2001. « Tolerance control with high resolution 3D measurements ». In 3ird International Conference on 3-D Digital Imaging and Modeling (Quebec, QC, Canada, May 28-June 1, 2001) pp. 339-346. Los Alamitos, CA, USA : Institute of Electrical and Electronics Engineers Computer Society.
Compte des citations dans Scopus : 6.

Le plein texte de ce document n'est pas hébergé sur ce serveur.

Rechercher dans Google Scholar

URL Officielle: http://dx.doi.org/10.1109/IM.2001.924473

Type de document:	Compte rendu de conférence
Chercheur(-euse):	Chercheur(-euse) Lepage, Richard
Affiliation:	Génie de la production automatisée
Date de dépôt:	24 juill. 2013 20:42
Dernière modification:	24 juill. 2013 20:42
URI:	https://espace2.etsmtl.ca/id/eprint/4957

Actions (Authentification requise)

Dernière vérification avant le dépôt