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Tools for the characterization of bipolar CML testability

Monte, Ginette et Antaki, Bernard et Patenaude, Serge et Savaria, Yvon et Thibeault, Claude et Trouborst, Pieter. 2001. « Tools for the characterization of bipolar CML testability ». In 19th IEEE VLSI Test Symposium (VTS) (Marina Del Rey, CA, USA, Apr. 29-May 3, 2001), p. 388-395. Los Alamitos, CA, USA : Institute of Electrical and Electronics Engineers Computer Society.
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Type de document: Compte rendu de conférence
Professeur:
Professeur
Thibeault, Claude
Affiliation: Génie électrique
Date de dépôt: 24 juill. 2013 20:42
Dernière modification: 24 juill. 2013 20:42
URI: http://espace2.etsmtl.ca/id/eprint/4974

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