Tools for the characterization of bipolar CML testability

Monte, Ginette, Antaki, Bernard, Patenaude, Serge, Savaria, Yvon, Thibeault, Claude et Trouborst, Pieter. 2001. « Tools for the characterization of bipolar CML testability ». In 19th IEEE VLSI Test Symposium (VTS) (Marina Del Rey, CA, USA, Apr. 29-May 3, 2001) pp. 388-395. Los Alamitos, CA, USA : Institute of Electrical and Electronics Engineers Computer Society.
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URL Officielle: http://dx.doi.org/10.1109/VTS.2001.923467

Type de document:	Compte rendu de conférence
Chercheur(-euse):	Chercheur(-euse) Thibeault, Claude
Affiliation:	Génie électrique
Date de dépôt:	24 juill. 2013 20:42
Dernière modification:	24 juill. 2013 20:42
URI:	https://espace2.etsmtl.ca/id/eprint/4974

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