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Detection and location of faults and defects using digital signal processing

Thibeault, Claude. 1995. « Detection and location of faults and defects using digital signal processing ». In Proceedings 13th IEEE VLSI Test Symposium (Los Alamitos, CA, USA, Apr. 30-May 3, 1995), p. 262-267. IEEE Computer Society Press.
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Type de document: Compte rendu de conférence
Professeur:
Professeur
Thibeault, Claude
Affiliation: Génie électrique
Date de dépôt: 27 mars 2014 15:59
Dernière modification: 27 mars 2014 15:59
URI: http://espace2.etsmtl.ca/id/eprint/7334

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